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2009年9月30日(水) 21:04

劣化

 毎回毎回、砲課弾倉ユニットを付けるのが面倒。外す時はまだしも、取り付けるのはコネクター類のセットが職人芸だ。毎日のように付け外しする想定ではない。

 用心深くメインコンデンサーの充電コネクターは外しておき、ハイサイドのゲート電位変化だけをオシロで先に測定。

 すると、予想もしなかった波形が現れた。1ボルト半ぐらいしか振れていない上に、電圧低下が非常に激しい。あれこれ試しても同様だ。光ゲートドライバーには正常な電圧が供給されているので、受光素子が緩んで受光量が減っている恐れがある。
 だが、緩んだら致命傷なのは分かっているから、かなりガチガチにテープで固めたはずだ。そう簡単に緩むものなのか?

 もしかして、光ゲートドライバーが劣化しているのかもしれない。

 念のため、ローサイドのゲートドライブ波形を測定。ちゃんと5Vまで振られている。

 ふと思い付いてハンダを溶かし、ハイサイドのゲートドライブ配線をIGBTから分離した。そして分離状態でゲートドライブ波形を測定。何と、綺麗に5Vまで振れている。IGBTに接続すればゲート容量のせいでスイッチングは遅くなるが、振れが3分の1になるとは考えられない。いや、もしゲートがソースと短絡していたら?

 ゲートとソースの間の抵抗値を測定すると、約30Ωだった。一方、ローサイドや在庫ユニットで測定すると、ほぼ絶縁状態になっている。
 短絡故障していないかに見えた生き残りIGBTだったが、やはり劣化していたのだ。30Ωの抵抗を引きずってゲートドライブしたために、大幅に振れが小さくなりまた高速に電荷が逃げて急激な電位の低下が起きていたのだ。

 これでは、試験にも使えない。
 結局、破壊されたIGBTユニットはユニットまるごと廃棄すべしってことだ。もったいなくても。

written by higashino [コイルガン戦車 1/24] [この記事のURL] [コメントを書く] [コメント(0)] [TB(0)]

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